DF-2000手持式X荧光光谱仪-山西恒瑞泰科贸有限公司

产品展示

DF-2000手持式X荧光光谱仪

DF-2000手持式荧光光谱仪广泛适用于质量控制、合金鉴别、勘探、矿石开采、矿物品位控制等领域。它具有体积小、重量轻、待机时间长、无损检测、分析速度快、准确度高、稳定性好、适用范围广、性价比高等优点。对样品形态要求低，固体、粉末、液体样品均可直接检测，多种元素含量一次性测定，方便快捷。

主要应用实例：废旧金属回收、合金材料牌号鉴定、贵金属等检测（如不锈钢、中低合金钢、铜合金、钛合金、铝合金、钽合金等的鉴定分析），探矿检测、品位控制、环境分析领域（可检测矿石中多达40多种元素如：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr等），原矿、精矿、尾矿、矿渣等矿物品分析等领域，为各种材质等的分析提供可靠地判断价值。

产品概述

仪器原理

X射线管发出的一次X射线，经过准直器照射到样品表面，样品激发并辐射出所含元素的特征X射线，根据特征X射线的能量及强度对样品所含元素进行定性、定量分析。

元素分析范围及含量范围

理论上，DF-2000若配置SDD探测器，可检测Mg（12）-U（92）之间的所有元素，若配置Si-Pin探测器，可检测Ti（22）-U（92）之间的所有元素。

元素含量范围宽，从ppm含量到99.9均可检测，具体检出限需看分析材质。

主要部件配置及参数

光源部分
X光管品牌	Amptek		X光管输入		9-11VDC，0.5A
X光管靶材			X光管输出		50KV，200μA
X光管功率	4W		准直器材质
X光管稳定性	0.2% 8h		滤片及材质
探测器
探测器类型		SDD		Si-Pin
探测器品牌		Amptek		Amptek
典型分辨率		123ev		145ev
输出计数率		100Kcps		30Kcps
峰背比		＞8200		＞6200

其它参数

显示系统	带触摸屏的3.5寸高清显示器，支持谱图显示及结果显示模式，A8主控板，高性能，低功耗
数据处理系统	16位模/数转换器，Atom Z510 1.1GHz处理器，1G内存，8G工业级（PQI） CF卡
操作软件	Linux操作系统，具有病毒免疫功能
安全防护	光管具有自动开启及关闭功能，最大程度保护操作者安全
供电模式	支持直充供电与电池组供电，电池组采用聚合物锂离子电池，可连续使用6小时
选配功能	300万像素高清摄像头，方便随时记录样品
规格	长宽高260mm95mm280mm
重量	约1.8kg
工作环境	温度范围-10℃～40℃；
相对湿度	≤80%

DF-2000元素检出限及误差参考表

DF-2000误差参考表
Fe基程序
元素	含量范围（%）	测定误差	元素	含量范围（%）		测定误差
Ti	0～0.5	0.25	Cu	0～5		0～0.7: 0.3 0.7～5: 0.4
V	0～5	0～1: 0.16 1～5: 0.3	Nb	0～1		0.1
Cr	0～18	0～2: 0.2 2～18: 0.4	Mo	0～7		0～2: 0.1 2～7: 0.25
Mn	0～9	0～2: 0.26 2～9: 0.5	W	0～19		0～2: 0.3 2～19: 0.9
Ni	0～13	0～2: 0.1 2～13: 0.5	Fe	余量
Ni基程序
Ti	0～1	0.3	Cu		0～33		0～2: 0. 5 2～33: 0.95
Co	0～13	0～3: 0.45 3～13: 0.8	Nb		0～3		0～1: 0.2 1～3: 0.4
Cr	0～25	0～2: 0.3 2～25: 0.8	Mo		0～28		0～2: 0.4 2～28: 0.9
Mn	0～3	0～1: 0.35 1～3: 0.45	W		0～3		0～1: 0.4 1～3: 0.5
Fe	0～39	0～5: 0.4 5～39: 0.9	Ni		余量
Cu基程序
Fe	0～0.5	0.15	Pb		0～6		0～2: 0.3 2～6: 0.5
Ni	0～0.5	0. 15	Sn		0～6		0～2: 0.3 2～6: 0.5
Zn	0～42	0～10: 0.4 10～42: 0.7	Cu		余量

标准配置

（1）DF-2000手持式荧光光谱仪一台，配手提仪器箱

（2）Li离子电池组一个

（3）U盘一个

（4）USB转接线一根

（5）直充充电器一个

（6）操作说明书一本

（7）标准样块一块

上一篇：OLYMPUS VEL便携式X射线荧光光谱仪

下一篇：暂无

返回列表页